EOS防護技術培訓

課程大綱：

第一部分：EOS及ESD基礎知識

1. 前言及EOS的歷史

2. 簡介

3. 對EOS的傳統(tǒng)看法

4. 工業(yè)委員會全球調查介紹

5. 什么是EOS

6. EOS的來源

      6.1 ESD

      6.2 電源

7. 什么是靜電

8. 靜電的產生原理（模擬試驗機演示）

9. 什么是ESD

10. ESD與EOS的關系

11. EOS與ESD失效比較

12. EOS與ESD的常規(guī)區(qū)別

13. EOS主要類別

14. EOS 根本原因

15. EOS 根本原因診斷

16.案例 1：錯誤的 ESD 資格導致 EOS

17.案例2：EOS被誤用

第二部分： EOS分析技術

1. 常用術語和定義

2. 工廠和現(xiàn)場的 EOS 損壞

3. 顯示 EOS 損壞的故障的現(xiàn)場返回分析的動機

4. 瞬變

5. 用于收集 EOS 損壞數(shù)據(jù)的 EOS 調查

     5.1 調查表和描述 - 調查是如何進行的？

     5.2 EOS調查結果

     5.3 EOS 故障原因進行歸類

     5.4 EOS 故障通常發(fā)生在哪里？

                        5.5其他報告的 EOS 原因

                        5.6診斷、降低 EOS 的重要性和故障報告

                        5.7最小化 EOS 問題的最有效方法是什么？

                        5.8報告的前 4 個 EOS 根本原因和置信度

6. EOS損壞的影響

7. 出現(xiàn) EOS 損壞的產品的故障報告

8. EOS 根本原因

9. 無動力處理期間的 EOS 損壞

10. 動力處理期間的 EOS

      10.1熱插拔相關

      10.2 系統(tǒng)級 ESD 相關 EOS

11. 案例3：熱插拔導致EOS

                                   12.  案例 4：間歇性電池接地連接導致 EOS

13.  案例 5：由于地面偏移導致的 EOS

第三部分：電路EMI、EOS防護與靜電敏感元器件ESD、EOS的防護設計

1. 微電子、電子電路的EMI、EOS問題

2. EMI、EOS涉及范圍

2.1 EMI防護技術的主要內容

2.2 EOS防護技術的內容

3. EMI、EOS對電子系統(tǒng)設備的干擾與微電子元器件的損害

3.1 EMI對電子系統(tǒng)、微電子產生干擾和損害

3.2 EOS對微電子的損害

4. ESD、EOS失效分析技術

4.1 失效分析基本技術

4.2 現(xiàn)代失效分析技術

5. EOS對電子系統(tǒng)、微電子元器件損害的防護

5.1 電氣設備漏電及微電子電路過載的防護

5..2 電氣系統(tǒng)、設備產生漏電原因及部位

5..3 漏電源的修復

6. 電子系統(tǒng)EMI的防護與抑制

6.1 電感性負載的瞬態(tài)浪涌抑制

6.2 電源電路的干擾抑制

6.3 電路合理布局減小EMI影響

6.4 電子系統(tǒng)接地EMI的抑制

7. 金屬件接地的搭接

7.1 搭接的類型

7.2 搭接技術原則

8.  案例 6：EOS 案例研究“汽車爆震傳感器”

9.  案例 7：EMI – 瞬態(tài)浪涌

10. SSD產品的ESD、EOS防護設計

10.1 SSD器件靜電敏感度與其設計結構的關系

10.2 常用的靜電放電保護器件

10.3 SSD器件防靜電保護網(wǎng)絡設計時需注意的問題

10.4 采用SSD的混合集成電路的保護電路設計注意事項

10.5 SSD組件保護電路設計的注意事項

10.6 電子SSD產品的防ESD、EOS增強設計

10.7 常用的幾種保護電路

10.8 HCMOS（高速CMOS）輸入端的保護結構

11. 案例 8：EMI – 電路板設計

12. 導線、電纜傳輸線EMI、ESD耦合抑制

12.1 雙股絞合線

12.2 屏蔽線

12.3 配線方法

第四部分： EOS 案例分析

4.1 案例 9：電源電容器切換

4.2 案例 10：DSP IC 中的 CBE

4.3案例11：可靠性測試

4.4得到教訓

4.5 EOS監(jiān)控清單

第五部分：課堂練習

5.1. ESD/EOS問題點詳解

5.2. 異常圖片大家來找茬

第六部分：答疑

6.1 EOS相關疑難問題點解答

6.2. 常見問題答疑

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